第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor
testing family
首页 产品中心 半导体测试 功率器件测试系统
分类
QT-4100 综合测试系统

适用于MOSFET、SIC 、IGBT 、氮化镓,二极管、三极管、可控硅、固态放电管、三端稳压、光耦等电性参数测试。提供整套成熟测试方案,全面支持DC,EAS,RGCG,热阻,SW开关特性,短路测试,TRR,QG等动静态参数测试。可实现多工站测试数据合并。



限压限流

高精度Rdon测试

模块化功能

多站数据合并

型号 QT-4100 综合测试系统
产品优势 测量防呆:电压、电流测量自动自检,异常自动报警停机
LOW RDON
快速自检:无需外接负载,2分钟完成自检
第三方校准:采用Agilent 34401A进行校准
内置示波器功能
支持多工位设备数据合并
主要特点 • 继电器3ms;
• 限压限流保护;
• 支持扩展EAS,LCR,热阻,SW,TRR,QG;
• 填表式编程;
• 支持PAT功能;
• 具备SECS/GEM标准接口