QP3000
适用于8、12″Si、SiC分立器件、功率器件、集成电路、射频器件、光芯片等晶圆的自动探针测试。 自动上下片，Wafer ID读取。 全自动CCD视觉对针定位。 高精度定位平台。 支持常高温测试。 实时生成Mapping显示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232接口。
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高精度定位 |
模块化设计 |
优秀的振动抑制 与温控性能 |
自动化测试能力 |
| 型号 | QP3000 |
| 产品介绍 |
适用于8、12″Si、SiC分立器件、功率器件、集成电路、射频器件、光芯片等晶圆的自动探针测试。 自动上下片，Wafer ID读取。 |
| 功能 |
• 全自动CCD视觉对针定位。 • 高精度定位平台。 • 支持常高温测试。 • 实时生成Mapping显示Bin。 • 通用GPIB、TTL、R-232接口。 |
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